W-Band On-Wafer Noise Parameter Measurements
T. Vähä-Heikkilä, M. Lahdes, J Tuovinen, M. Kantanen, P. Kangaslahti, P. Jukkala, N. Hughes
W-BAND ON-WAFER NOISE PARAMETER MEASUREMENTS
Tauno Vähä-Heikkilä1, Manu Lahdes1, Jussi Tuovinen1, Mikko Kantanen1, Pekka Kangaslahti2,3, Petri Jukkala2 and Nicholas Hughes2 MilliLab, VTT Information Technology, P.O. Box 1202, FIN-02044 VTT, Finland, email: Tauno.Vaha-Heikkila-vtt.fi, http://www.vtt.fi/MilliLab, 2 Ylinen Electronics Ltd., Teollisuustie 9 A, FIN-02700 Kauniainen, 3 Electronic Circui