Measurements and Simulations of Hot-Carrier Degradation Effects in AlGaAs/GaAs HFETs
A. Mazzanti, G. Verzellesi, A.F. Basile, C. Canali, G. Sozzi*, R. Menozzi
Measurements and Simulations of Hot-Carrier Degradation Effects in AlGaAs/GaAs HFETs
A. Mazzanti, G. Verzellesi, A.F. Basile, C. Canali, G. Sozzi*, R. Menozzi* Università di Modena e Reggio E. and INFM, Dipartimento di Ingegneria dell'Informazione, via Vignolese 905, 41100 Modena, Italy, e-mail: giovanni.verzellesi-unimo.it * Università di Parma, Dipartimento di Ingegneria dell'Informazione, Parco